相關(guān)網(wǎng)頁 商品名稱： 低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)
Loresta-AX
特色： 維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)世界*之四探針理論之高精度之阻抗率計
操作簡單，現(xiàn)場使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理
測定范圍： 10-2～106Ω
資料輸出： USB Memory
體積： 約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g
標(biāo)準(zhǔn)配備
ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》
利用價值廣泛標(biāo)準(zhǔn)探頭JIS K7194對應(yīng)，
Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm
MCP-TA06 充電器
選購品
ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》
不均一樣品用
Pin間 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，壓力 240g/支，
尺寸 35W×20L×35Hmm
PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》
小樣品或薄膜用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm
QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》
微小樣品用
Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支，
尺寸 Ø 10-20× L112mm
NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》
Silicone wafer用
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支
BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》
大樣品用
Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支
TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支
AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》
標(biāo)準(zhǔn)樣式
Pin間 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支
BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》
大樣品用
Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支
MCP-TRF1探頭檢驗片
ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之)
MCP-TRPS 探頭檢驗片
PSP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之)
MCP-TRTF 探頭檢驗片 |
